大家對高溫氧化鋁也許有了一定的了解，接下來就給大家介紹一些相關的知識，它的原晶粒度的測定方法。

　　具體如下：

　　1、紅外光譜結構分析法

　　由于譜線吸收帶的大小與晶粒度的大小有關，可在紅外光譜儀的結構中，引入一種吸附帶面積積分儀，來算出平均晶粒度。該法分析的用品用量很少，對于晶粒度分布范圍寬的樣品，如何取得有代表性的樣品，仍是客觀存在困難。

　　2、X射線衍射法

　　主要是譜線寬化法，該法可測定擬薄水鋁石的晶粒度，但a氧化鋁粉系列產品的衍射譜線是窄而銳利的，實驗表明并不存在“款化效應”，甚至由于礦化劑的影響，造成衍射峰的強度與JCPDS卡片不一致，進而影響到α氧化鋁定量分析的準確性。

　　3、氮吸附小比表面法

　　對于多孔活性物質較合適，但由于從高溫下獲得的a氧化鋁粉燒結體是致密的，開氣孔和閉氣孔均很少，液氮分子難以進入晶粒的間隙，因此測定的范圍是有限的，其測定晶粒度的誤差也較大，該法的原理限制了其工業應用價值。

　　4、電子顯微鏡法

　　以化學腐蝕與掃描電鏡（SEM）相結合測定晶粒度的方法，該法既直觀又可靠，是能反映晶粒形貌、尺寸的有效方法，但設備投資大，分析費用高。

　　5、研磨法

　　早年美國鋁業公司的同行來中國時增提到過這種方法，在特定的容積內，以一定的料球比、固定研磨時間（大約為8小時左右），再用粒度分析儀測定粉碎物料的晶粒分布及中位徑D50，并用這種方法來實現宏觀控制。

　　以上就是有關高溫氧化鋁原晶粒度測定方法的介紹，大家可以參考一下，今天的內容就介紹到這里，想要了解更多產品知識可以繼續關注我們。

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